半導(dǎo)體四探針電阻率測(cè)試儀方阻儀

HPS2661四探針電阻率測(cè)試儀，可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測(cè)試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導(dǎo)電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)試柔性材料導(dǎo)電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、高等院校和科研單位對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的測(cè)量。

半導(dǎo)體四探針電阻率測(cè)試儀方阻儀

性能特點(diǎn):v 超大液晶人性化操作界面

v 多種測(cè)量參數(shù)可選

v 測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)保持功能

v 超快測(cè)量并顯示讀數(shù)

v 量程有自動(dòng)和手動(dòng)雙模式

v 檔號(hào)顯示及檔計(jì)數(shù)功能

v 兼容多種材料測(cè)量

v 專業(yè)的通訊接口可以與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊及對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制

應(yīng)用

硅類半導(dǎo)體材料

柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬鍍層、ITO膜或納米涂層

HPS2661四探針電阻率測(cè)試儀，可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測(cè)試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導(dǎo)電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)試柔性材料導(dǎo)電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、高等院校和科研單位對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的測(cè)量。

半導(dǎo)體四探針電阻率測(cè)試儀方阻儀性能特點(diǎn)

v 超大液晶人性化操作界面

v 多種測(cè)量參數(shù)可選

v 測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)保持功能

v 超快測(cè)量并顯示讀數(shù)

v 量程有自動(dòng)和手動(dòng)雙模式

v 檔號(hào)顯示及檔計(jì)數(shù)功能

v 兼容多種材料測(cè)量

v 專業(yè)的通訊接口可以與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊及對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制

應(yīng)用

硅類半導(dǎo)體材料

柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬鍍層、ITO膜或納米涂層